Nova
Nova是谱睿仪器针对镀层无损检测研发的一款X射线荧光光谱仪，适用于电镀、化学镀、连接器等行业。该产品使用美国AMPTEK定制Fast-SDD探测器，内置NUC工控电脑，运行Smart FP算法，应用创新型X射线与可见光共焦点垂直光路，实际照射焦斑更小。无需标样，可同时检测镀层厚度及成分，支持4层检测。检测速度快、稳定性好、准确性高。
产品特点
元素检测范围
磷(No.15)~铀（No.92）
检测精度
镀层：RSD≤1.5%
多层分析
可支持4层镀层检测
Smart FP算法
同时支持镀层厚度和成分检测
规格参数
| 探测器 | AMPTEK定制版Fast-SDD探测器 | 准直器 | Φ0.5mm（可选配） |
|---|---|---|---|
| 探测器面积: 25mm2 | 输入电压 | AC100～240V，50Hz | |
| 分辨率: 125±5eV | 产品包装尺寸 | 625*560*480mm | |
| 内置工控电脑 | Intel i5 十二核 | 产品尺寸 | 460*522*368mm |
| 高压电源 | 50KV/1mA数字高压电源 | 样品舱尺寸 | 374*344*155mm |
| X射线管 | 50KV/1mA | 额定功率 | 150W |
| 窗口材料：铍 | 毛重 | 57KG | |
| 靶材：钨/钼 | 净重 | 42KG | |
| 焦点: Φ0.1mm | 噪音 | ＜65dB |
质量认证
解决方案
